XRE DynaTOM 超高速扫描微米分辨率X射线显微镜/CT
超高速的微米分辨率三维X射线成像显微镜CT,几秒内完成一个扫描
独特技术优点
- 专为高速4D(三维图像+时间)成像而设计:是全球第一台商品化的高速扫描微米分辨率系统。
- 快速连续数据采集:X射线源和探测器围绕样品连续旋转,快速连续采集数据,10秒钟之内完成一个360°扫描。
- 空间分辨率高达2微米。
- 为原位实验动态实验优化设计。
- 4D数据采集软件。
主要技术参数
X射线源 | 130 kV / 35W |
X射线探测器 | 平板探测器,像素1900 x 1500 |
空间分辨率 | 2 μm (JIMA分辨率测试板) |
最大样品尺寸 (Ø x h) | 200 mm x 500 mm |
最大CT视场 (Ø x h) | 100 mm x 300 mm |
最大样品重量 | 50 kg |
最大时间分辨率 | < 10 seconds |
样品台自动化 | 6样品台,安装在高精度大理石基座上 |
设备外形尺寸 | 约1.5 x 1.5 x 2.1 m (WxLxH) |
设备重量 | 约3200 kg |